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產品概要
CG高低溫真空探針臺是SEMISHARE多年來技術積累的創新成果,同時SEMISHARE也是國內較早自主研發推出的高低溫真空探針臺,CG高低溫真空探針臺能夠實現樣品在真空高低溫環境下的精確電性、光強、波長、磁場等測試。2016年,SEMISHARE參與由哈工大和中國航天科技集團共建的“空間環境地面模擬裝置”部分技術設計項目,其在超低溫,超高真空,自動控制,激光模擬方面發揮著獨有的技術優勢。
基本信息
產品型號 |
SCG-O-4 |
工作環境 |
高低溫真空環境 |
電力需求 |
AC220V,50~60HZ |
操控方式 |
手動探針臺 |
產品尺寸 |
1100*1100*530mm |
設備重量 |
約190KG |
應用方向
CG高低溫真空探針臺在高低溫真空環境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的I-V/C-V特性測試、霍爾測試、電磁輸運特性、高頻特性測試等。
技術特點
一、真空腔體
真空腔體采用外腔和屏蔽腔雙腔體結構,為樣品測試提供極限壓力為10-4Pa的真空環境。低溫測試時,避免空氣中的水蒸氣在樣品上凝結成露水,從而避免漏電過大或探針無法接觸電極而使測試失敗。同時,由于真空絕熱作用可是有效的提供制冷效率。高溫測試時,避免了空氣中的氧氣氧化樣品,從而避免樣品電性誤差、物理和機械上的形變。
二、探針臂XYZ調節機構
探針臂XYZ調節機構采用了自鎖絲杠和交叉滾子導軌的結構,實現了探針定位精確為10um,探針漂移量優于±60nm/30mins的高精度點針。同時,采用三軸管狀夾具和高屏蔽功能的三軸線纜,從而實現測試漏電精度達50FA。
三、探針熱沉設計,定位更精準
SEMISHARE直流探針臂均配有兩次熱沉設計,第一次探針臂熱沉在防輻射屏上、第二次探針通過陶瓷夾具熱沉在樣品臺上。SEMISHARE的熱沉設計能夠有效的降低探針臂與測試器件的溫差,提高了測試數據的精確性。
四、顯微鏡調節機構
顯微鏡調節機構通過調節支撐架的伸縮、高低以及顯微鏡自帶調節座,可觀測樣品任意區域。20倍目鏡和0.8倍-5倍的物鏡變焦倍率,從而實現樣品16X-100X的放大倍率。
五、制冷劑流量調節系統
制冷劑調節系統由杜瓦罐、壓縮氮氣壓力控制閥及精密調節的針閥組成??刂频蜏貢r,通過調節壓縮氮氣壓力控制閥來調節杜瓦罐中的壓力,從而控制制冷劑流出的壓力,繼而調節制冷劑的流量;通過調節精密針閥進而精密控制制冷的流量,最終實現精準的低溫控溫功能。
六、制冷劑同軸回路
制冷劑同軸回路使制冷劑從中間進入管路進入樣品臺,流經屏蔽腔底板腔室,在回流至同軸回路外層回流管中,最后通過排氣口排放到室外。制冷劑同軸回路使得制冷劑在排出的過程中加以利用,營造相對室溫低很多的環境,抑制了進入樣品臺的制冷劑的提前消耗,從而提高制冷劑的制冷效率,較少制冷劑的消耗。
七、防震平臺
防震系統采用進口韓國大一公司的空氣彈簧式支撐架的防震平臺。通過空氣彈簧的形狀、材質、彈簧室的容積及補助罐容積、阻尼孔徑和水平調節閥等一系列減震設計,實現該系統垂直本征頻率為1.5Hz,水平本征頻率為1.2Hz的低頻固有頻率,承重達400Kg的優異承載能力。從而有效避免細微低頻率頻帶的振動給測試帶來的不利影響。
型號 | SCG-O-2 | SCG-O-4 | SCG-C-2 | |
外形 | 900*900*530mm | 1100*1100*530mm | 1100*1100*1030mm | |
重量 | 約170KG | 約190KG | 約290KG | |
電力需求 | AC220V,50~60HZ | |||
樣品臺 | 尺寸 | 2英寸 | 4英寸 | 2英寸 |
樣品固定方式 | 真空導熱硅脂/彈簧壓片 | |||
樣品臺移動 | 固定的樣品臺 | |||
真空度 | 10^-10torr較高真空 | |||
光學特性 | 顯微鏡行程 | 2*2英寸 | 4*4英寸 | 2*2英寸 |
放大倍數 | 變焦:7:1分辨率4μm (放大倍數216X)或者選用金像顯微鏡(20X~1000X) | |||
真空腔觀察窗尺寸 | 2inch | 4inch | 2inch | |
CCD像素 | 50W(模擬)/200W(數字)/500W(數字) | |||
溫控規格 | 制冷方式 | 液氮/液氦 | 制冷壓縮機 | |
控制方式 | 開循環手動/自動冷媒流量控制 | 閉循環自動控制 | ||
控溫范圍 | 77K~450K/4.2K~450K | 4.2K~450K | ||
控溫分辨率 | 0.001K | |||
溫度穩定性 | 4.2K ±0.2K 77K ±0.1K | |||
373K ±0.08K 473K ±0.1K | ||||
823K ±0.2K(可選) 973K ±1.0K(可選) | ||||
常溫到8K冷卻時間 | 90min | 150min | ||
8K到常溫升溫時間 | 90min | 90min | ||
常溫開始的升溫時間 | 100℃ 150℃ 200℃ | |||
30min 50min 80min | ||||
加熱電源 | LVDC 低壓直流 | |||
傳感器 | 硅二極管 | |||
傳感器數量 | 樣品臺,防輻射屏,探針臂各一個 | |||
功率 | 50W/100W/500W/1000W | |||
點針規格 | 探針數量 | 2個/4個/6個 | ||
探針調節 | 真空波紋管外部調節,手動控制 | |||
點針精度 | 10微米/2微米/0.7微米 | |||
X-Y-Z行程 | 25mm-25mm-25mm | |||
漏電精度 | 10pA/100fA | |||
接口形式 | 三軸/SMA/K/光纖接口 | |||
可選附件 | 防震桌 | |||
多級壓縮制冷機 | ||||
機械泵/分子泵組/離子泵 | ||||
射頻部件 | ||||
Chuck運動裝置 | ||||
電磁鐵系統/超導磁鐵系統 | ||||
1Mpa正壓系統升級 | ||||
超高溫升級選件 | ||||
超高真空升級選件 | ||||
客戶特殊定制 | ||||
應用方向 | 高低溫真空環境下的芯片測試,材料測試,霍爾測試,電磁輸運特性等 | |||
特點 | ||||
可進行真空環境下的高低溫測試(4.2K~450K) | 可升級加載磁場 | |||
防輻射屏設計,樣品溫度均勻性更好 | 支持光纖光譜特性測試 | |||
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動 | 器件的高頻特性(支持高達67GHz頻率) | |||
探針熱沉設計 | LD/LED/PD的光強/波長測試 | |||
自動流量控制 | 材料/器件的IV/CV特性測試 |
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